T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術積累與鍍層應用經驗，專門設計研發的 一 款下照式結構的鍍層測厚 儀，性價比高、適用性強。

該款采用先進的FP算法同時搭配高速數字多道技術，  應對各大小平面件、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低，性能穩定，檢出限可達0.005um，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設計的實用型膜厚儀。

應用領域

頂尖配置，值得更優性能

相比圖2普通接收器，T300V采用了更為先進的高分辨率探測器，能完美的將不同元素的信號準確 解析，針對單層、多層或復雜合金鍍層的測量，測量精度更高，穩定性更好。

儀器參數 

選擇T300V的理由

檢測實例